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LEEM是廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)領(lǐng)域的高技術(shù)分析儀器,能集原位觀測(cè)、超快及光電子成像于一體,即我們所稱的“長(zhǎng)眼睛的超級(jí)XPS“,能對(duì)薄膜以及二維材料、鋰離子電池、鈣...
掃描隧道顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope, STM)是一種基于量子隧穿效應(yīng)的高分辨率表面分析儀器,能夠在原子尺度上直接觀測(cè)導(dǎo)電...
LEEM是廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)領(lǐng)域的高技術(shù)分析儀器,能集原位觀測(cè)、超快及光電子成像于一體,即我們所稱的“長(zhǎng)眼睛的超級(jí)XPS",能對(duì)薄膜以及二維材料、鋰離子電池、鈣...
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